芯片溫度測(cè)試變化試驗(yàn)箱

型號(hào)：TEB-255PF

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更新時(shí)間：2025-07-27

價(jià)格：45980

簡(jiǎn)要描述：

芯片溫度測(cè)試變化試驗(yàn)箱
可為用戶(hù)檢驗(yàn)、檢測(cè)電子電工元器件、零配件
或相關(guān)行業(yè)的實(shí)驗(yàn)部門(mén)提供一個(gè)模擬環(huán)境，為
測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性（可重復(fù)）提供*條件。

詳細(xì)介紹

品牌	HT/皓天	價(jià)格區(qū)間	2萬(wàn)-5萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車(chē)及零部件,電氣

芯片溫度測(cè)試變化試驗(yàn)箱

升溫時(shí)間(平均/min)	非線(xiàn)性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線(xiàn)性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃）
降溫時(shí)間(平均/min)	非線(xiàn)性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線(xiàn)性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃）

芯片溫度測(cè)試變化試驗(yàn)箱

1 、試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)新穎合理，配套產(chǎn)品和功能元器件具有較高水平，能夠適應(yīng)長(zhǎng)期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)需求。能夠滿(mǎn)足用戶(hù)為從事上述用途的加工生產(chǎn)要求，且使用、操作、維修方便，使用壽命長(zhǎng)，造型美觀，有良好的用戶(hù)界面，使用戶(hù)的操作和監(jiān)測(cè)都更加簡(jiǎn)單和直觀。

2、設(shè)備主要部件選用國(guó)際品牌廠(chǎng)家的產(chǎn)品，確保整機(jī)的質(zhì)量和性能。

3 、設(shè)備性能*、人機(jī)對(duì)話(huà)功能簡(jiǎn)便易操作。

4、擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)和外觀設(shè)計(jì)以及掌握環(huán)境試驗(yàn)箱核心技術(shù)

5、控制儀表采用日本*"優(yōu)易控"UMC1200，可實(shí)行遠(yuǎn)程監(jiān)控

6、制冷系統(tǒng)采用法國(guó)原裝泰康壓縮機(jī)組，并配有凝結(jié)水接水盤(pán)

7、核心電氣元器件均采用施耐德等

8、沿襲國(guó)外環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備*設(shè)計(jì)理念，水電分離